1. 题目：Elucidation of Molecular Mechanisms of Plant Disease Resistance Using the Microarray Technology（利用基因芯片技术揭示植物抗病性的分子机理）
时间：11月22日上午8:00
地点：国际交流中心208会议室
2. 题目：Genetics and Application of Wheat Resistance to Stripe Rust （小麦抗条锈性遗传及 应用）
时间：11月23日上午8:00
地点：国际交流中心208会议室
报告人：美国农部小麦条锈病控制首席科学家，华盛顿州立大学教授，我校植物病理学科“111”计划海外学术大师 陈贤明博士
植物保护学院
2007年11月20日